Применение свёрточных нейронных сетей для распознавания длинных конструктивных элементов рельсов на вихретоковых дефектограммах
https://doi.org/10.18255/1818-1015-2020-3-316-329
Аннотация
Для обеспечения безопасности движения на железнодорожном транспорте регулярно проводится неразрушающий контроль рельсов с применением различных подходов и методов, включая методы вихретоковой дефектоскопии. Актуальной задачей является автоматический анализ больших массивов данных (дефектограмм), которые поступают от соответствующего оборудования. Под анализом понимается процесс определения по дефектограммам наличия дефектных участков наряду с выявлением конструктивных элементов рельсового пути. Данная статья посвящена задаче распознавания образов длинных конструктивных элементов железнодорожных рельсов по дефектограммам многоканальных вихретоковых дефектоскопов. Рассматриваются два класса конструктивных элементов рельсового пути: 1) счётчики осей подвижного состава, 2) пересечения рельсовых путей. Длинные отметки, которые не могут быть отнесены к этим двум классам, условно считаются дефектами и выносятся в отдельный третий класс. Для распознавания образов конструктивных элементов на дефектограммах применяется свёрточная нейронная сеть, реализованная в рамках открытой библиотеки TensorFlow. С этой целью каждая выделенная для анализа область дефектограммы преобразуется в графический образ в градации серого цвета размером 30 на 140 точек.
Об авторах
Егор Владимирович КузьминРоссия
Профессор, доктор физико-математических наук.
Ул. Советская, 14, г. Ярославль, 150003
Олег Евгеньевич Горбунов
Россия
Генеральный директор, кандидат физико-математических наук.
Ул. Союзная, 144, Ярославль, 150008
Петр Олегович Плотников
Россия
Инженер-технолог.
Ул. Союзная, 144, Ярославль, 150008
Вадим Александрович Тюкин
Россия
Руководитель сектора разработки.
Ул. Союзная, 144, Ярославль, 150008
Владимир Анатольевич Башкин
Россия
Профессор, доктор физико-математических наук.
Ул. Советская, 14, г. Ярославль, 150003
Список литературы
1. A. A. Markov and E. A. Kuznetsova, Rails flaw detection. Formation and analysis of signals. Book 1. Principles. St. Petersburg: KultInformPress, 2010.
2. A. A. Markov and E. A. Kuznetsova, Rails flaw detection. Formation and analysis ofsignals. Book 2. Data interpretation. St. Petersburg: Ultra Print, 2014.
3. V. F. Tarabrin, A. V. Zverev, O. E. Gorbunov, and E. V. Kuzmin, “About Data Filtration of the Defectogram Automatic Interpretation by Hardware and Software Complex ASTRA”, NDT World, vol. 64, no. 2, pp. 5-9, 2014.
4. E. V. Kuzmin, O. E. Gorbunov, P. O. Plotnikov, V. A. Tyukin, and V. A. Bashkin, “Application of Neural Networks for Recognizing Rail Structural Elements in Magnetic and Eddy Current Defectograms”, Automatic Control and Computer Sciences, vol. 53, no. 7, pp. 628-637, 2019.
5. E. V. Kuzmin, O. E. Gorbunov, P. O. Plotnikov, and V. A. Tyukin, “An Efficient Algorithm for Finding the Level of Useful Signals on Interpretation of Magnetic and Eddy Current Defectograms”, Automatic Control and Computer Sciences, vol. 52, no. 7, pp. 867-870, 2018.
6. E. V. Kuzmin, O. E. Gorbunov, P. O. Plotnikov, and V. A. Tyukin, “Finding the Level of Useful Signals on Interpretation of Magnetic and Eddy-Current Defectograms”, Automatic Control and ComputerSciences, vol. 52, no. 7, pp. 658-666, 2018.
7. I. Goodfellow, Y. Bengio, and A. Courville, Deep Learning. MIT Press, 2016.
8. F. Chollet, Deep Learning with Python. Manning Publications Co., 2018.
9. TensorFlow. [Online]. Available: https://www.tensorflow.org/.
Рецензия
Для цитирования:
Кузьмин Е.В., Горбунов О.Е., Плотников П.О., Тюкин В.А., Башкин В.А. Применение свёрточных нейронных сетей для распознавания длинных конструктивных элементов рельсов на вихретоковых дефектограммах. Моделирование и анализ информационных систем. 2020;27(3):316-329. https://doi.org/10.18255/1818-1015-2020-3-316-329
For citation:
Kuzmin E.V., Gorbunov O.E., Plotnikov P.O., Tyukin V.A., Bashkin V.A. Application of Convolutional Neural Networks for Recognizing Long Structural Elements of Rails in Eddy-Current Defectograms. Modeling and Analysis of Information Systems. 2020;27(3):316-329. (In Russ.) https://doi.org/10.18255/1818-1015-2020-3-316-329